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ウエハ成膜の基本
半導体製造において、ウエハ成膜は重要な工程の一つです。以下では、ウエハ成膜の役割やウエハそのものの定義、さらに成膜プロセスの基本について説明します。半導体製造工程とウエハ成膜の役割
ウエハ成膜は、半導体製造における多段階の工程の一部であり、電子デバイスの性能や機能に直接影響を与えます。成膜工程では、以下の役割を果たします。- 絶縁膜の形成 ウエハ表面に酸化膜や窒化膜を成膜し、絶縁層を形成します。これにより、配線間の短絡を防ぎます。
- 導電層の形成 金属や金属化合物を成膜して電流を流すための配線を構築します。
- 保護膜の形成 デバイスを外部環境から保護する膜を作成します。これにより、腐食や摩耗を防ぎます。
ウエハとは何か:定義と特性
ウエハ(Wafer)とは、シリコンやその他の材料から成る薄い円盤状の基板を指します。このウエハ上に電子回路やデバイスが作り込まれます。以下がウエハの主要な特性です:- 材質 主にシリコンが使用されますが、特定の用途ではガリウムヒ素(GaAs)やシリコンカーバイド(SiC)も使われます。
- 形状とサイズ 厚さは数百マイクロメートル程度で、直径は4インチから12インチが一般的です。
- 純度 非常に高い純度(99.9999999%以上)が求められ、微細な欠陥がデバイスの性能に影響を与えるため、品質管理が厳格です。
成膜とは:基本プロセスの概要
成膜とは、ウエハ表面に特定の材料を薄膜として均一に堆積させるプロセスを指します。以下に、成膜の基本プロセスを説明します。- 物理蒸着(PVD: Physical Vapor Deposition)
- 材料を蒸発させてウエハ表面に堆積させる方法。代表的な手法はスパッタリングや蒸着です。
- 化学蒸着(CVD: Chemical Vapor Deposition)
- 気体状の化学物質をウエハ表面で反応させて膜を形成する手法。高温環境での処理が一般的です。
- 原子層堆積(ALD: Atomic Layer Deposition)
- 原子レベルで薄膜を制御的に堆積させる方法。膜厚が非常に均一になる特徴があります。
- 電気化学的成膜
- 電解液を用いてウエハ表面に金属を堆積させるプロセス。配線やコンタクト層の形成に用いられます。
半導体製造における成膜プロセス
半導体製造において成膜プロセスは、電子デバイスの性能と信頼性を左右する重要な工程の一つです。以下では、成膜技術の種類や特徴、各種成膜方法の概要、そして工程制御と品質管理について解説します。成膜技術の種類と特徴
成膜技術は、主に物理的手法と化学的手法の2つに分類されます。それぞれの特徴を以下に示します:- 物理的成膜方法(PVD: Physical Vapor Deposition)
- 主に真空環境で材料を蒸発またはイオン化させ、基板上に堆積する方法です。
- 特徴:高純度の薄膜形成が可能、膜厚が均一。
- 化学的成膜方法(CVD: Chemical Vapor Deposition)
- 気体状の化学物質を反応させて膜を形成する手法。プロセス温度が比較的高い。
- 特徴:複雑な形状にも均一に膜を形成可能。
- 特殊な成膜技術
- 原子層堆積(ALD: Atomic Layer Deposition):原子レベルの精度で膜厚を制御できる。
- 電気化学的成膜:配線や電極形成に適し、低コストで金属膜を形成可能。
物理的成膜方法(PVD、CVD等)
- PVD(Physical Vapor Deposition)
- 蒸着:熱を利用して材料を蒸発させ、基板上に堆積させる。
- 用途:反射防止膜や配線形成。
- スパッタリング:高エネルギーイオンを材料に衝突させ、基板上に堆積させる。
- 特徴:均一な薄膜形成が可能。
- CVD(Chemical Vapor Deposition)
- 気体状の前駆体を化学反応させ、薄膜を形成する方法。
- 用途:絶縁膜や半導体層の形成。
- サブカテゴリー:
- LPCVD(Low-Pressure CVD):低圧下で反応速度を制御。
- PECVD(Plasma-Enhanced CVD):プラズマを利用して低温で反応を促進。
化学的成膜方法とその応用
- 湿式成膜
- 化学溶液を基板に塗布して膜を形成する手法。
- 用途:有機物のコーティングや保護膜形成。
- ALD(Atomic Layer Deposition)
- 化学反応を1層ずつ繰り返して原子レベルで制御された膜を形成する。
- 用途:高精度のゲート絶縁膜やバリア膜形成。
- エピタキシャル成長
- 基板上に原子配列を整列させながら薄膜を形成する方法。
- 用途:高性能半導体デバイスやLED製造。
成膜プロセスの工程制御と品質管理
- 工程制御
- 成膜中の温度、圧力、ガス流量を正確に制御。
- インラインモニタリングにより膜厚や均一性をリアルタイムで確認。
- 品質管理
- 成膜後の検査:表面の均一性、膜厚、密着性を評価。
- 試験方法:エリプソメトリー、X線回折、SEM(走査型電子顕微鏡)を活用。